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ROHS检测及膜厚仪

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日本精工膜厚仪SFT-110

日本精工电子有限公司的子公司精工电子纳米科技有限公司将在5月初推出配备自动定位功能的[X射线荧光镀层厚度测量仪SFT-110],使操作性进一步提高。对半导体材料、电子元器件、汽车部件等的电镀、蒸镀等的金属薄膜和组成进行测量管理,可保证产品的功能及品质,降低成本。

日本精工膜厚仪SFT-9400系列

SFT9000系列中高级的机型「SFT9400系列」 搭载有75W高功率X射线管与双检测器(半导体检测器+比例计数管),能满足“薄膜镀层”、“合金镀层”、“超微小面积测量”等镀层厚度测量需求的高性能镀层厚度测量仪。 此外,SFT9400系列还在测量镀层厚度的基础上,新增了可对不同被测物体积材料进行定性分析和成分分析的功能。

日本精工膜厚仪SFT-9300系列

为了满足测量微小区域及高精度的需求,安装了“SFT”优秀的75W高功率X射线管。 快速的对应日益微小化的电子产品,更扩大了X射线荧光镀层厚度测量仪的应用。

日本精工膜厚仪SFT-9500系列

SFT9500的X射线发生系统是X射线聚光系统聚光导管与X射线源相结合,产生束斑直径为0.1mm以下高强度的X射线束。 所以SFT9500可以对以往由于X射线照射强度不足而导致无法得到理想精度的导线架、接插头、柔性线路板等微小零件及薄膜进行测量。同时,SFT9500采用了高计数率、高分辨率的半导体检测器无需液氮,在测量镀膜厚度的同时,对于欧盟的RoHS ELV法规所限制的有害元素的分析测量也十分有效。
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